Komise

Požadavky ke státní rigorózní zkoušce

Širší vědní základ

Elektromagnetické pole. Vlnová funkce. Relace neurčitosti. Schrödingerova rovnice a její řešení v jednoduchých případech. Přibližné metody kvantové teorie. Elektron v periodickém prostředí, pásová struktura. Chemická vazba. Termodynamické potenciály, rovnováha, fázové pravidlo, fázové přechody. Statistická rozdělení, vztah termodynamických a statistických veličin, entropie. Náhodné procesy, fluktuace, jejich charakteristiky. Krystalografie a struktura pevných látek, typy vazeb. Fonony. Elektronová struktura pevných látek, hustota stavu, Fermiho energie, lokální stavy. Transportní jevy, rovnice kontinuity, difúzní rovnice, relaxační doby, mechanismy rozptylu.

Pokročilé partie oboru

Objemové a povrchové procesy ve vakuových systémech, vypařování a kondenzace, interakce plynu s pevnou látkou (povrchová, objemová), čerpací proces, mezní tlak. Fyzikální principy metod získávání a měření nízkých tlaků. Pohyb nabitých částic v elektrických a magnetických polích, základní elektronové optické soustavy. Hmotová spektroskopie. Rozhraní dvou pevných látek (kov- kov, kov-polovodič, polovodič-polovodič), elektronické procesy na rozhraních, fyzikální principy a funkce elektronických prvku. Povrch pevné látky (struktura, čistota, jevy rekonstrukce a relaxace), elektronová struktura povrchu (kovy a polovodiče), povrchové stavy, ohyb pásu, výstupní práce. Fyzikální jevy na površích (adsorpce; emise nabitých částic – termoemise, termiontová emise, povrchová ionizace, tunelová emise, ionizace v silném poli, fotoemise; interakce záření a částic s pevnou látkou). Vytváření definovaných povrchů a tenkých vrstev, základní metody. Teorie růstu tenkých vrstev, epitaxe. Specifické vlastnosti tenkých vrstev, transport náboje tenkou vrstvou. Diagnostické metody (mikroskopie, elektronové a iontové spektroskopie, difrakční metody).

Speciální část

Podle zaměření práce uchazeče bude určena speciální otázka z oboru.

Doporučená literatura